熱釋光探測器(TLD)是利用熱致發(fā)光原理測量核輻射的裝置。熱釋光發(fā)光體作為劑量元件，把接收到的射線的能量儲存積累起來，由熱釋光加熱發(fā)光裝置加熱后，劑量元件發(fā)出光，通過光電倍增管轉(zhuǎn)換成電信號并輸出顯示。是20世紀60年代發(fā)展起來的一種輻射劑量測量方法。熱釋光探測器廣泛應用于輻射防護、放射醫(yī)學、放射生物學、地質(zhì)學、考古學和環(huán)境保護等領域，尤其在個人劑量監(jiān)測中被廣泛使用。
 

　　熱釋光探測器是利用熱致發(fā)光原理測量核輻射的裝置。具有晶體結(jié)構(gòu)的某些固體，常含有多種晶格缺陷(如一些原子或離子缺位或加入某些外來雜質(zhì)等)，它們能吸引異性電荷形成“陷阱”。當射線照射時，在固體中產(chǎn)生的電子和正離子被其俘獲。檢測時加熱固體，則釋放的電子和正離子與固體其他部分的異性電荷復合并發(fā)光。其發(fā)光光線穿過并導光電倍增管產(chǎn)生光電流，再經(jīng)直流放大器放大，通過記錄器記錄。
 

　　熱釋光元件可以重復使用。但是，經(jīng)核輻射照射后的熱釋光體只允許一次加熱測量，因為加熱后，儲存的信息就被破壞了，不能復查測量結(jié)果。在劑量監(jiān)測中，萬一某次測量失誤，測量結(jié)果就被丟失。要再次使用時，熱釋光體要用高溫退火。對不同材料，退火溫度不*相同。如對LiF，要在400℃下保持1h，在該條件下，可使400℃下的所有發(fā)光峰陷阱中的電子全部釋放出來，而陷阱能級并不破壞。